卤素水分仪技术参数解释
快速卤素水分测定仪的技术参数都是什么意思？在寻找卤素水分测定仪选型指南的解决方案时，我们应该关注的主要参数有：称重精度、重复性、升温程序（干燥程序）、温度校准、称重校准、读数精度（水分可读性）、停机模式（关机判定标准）、干燥温度、加热系统等技术参数，这些参数分别代表什么意思呢？
快速卤素水分测定仪
（点击图片可放大查看）
快速卤素水分测定仪采用烘干加热法原理测定物料中的水分含量，这在日常生产中被广泛的应用。水分含量无论是过高还是过低，均会影响产品诸如可加工性、使用寿命、可用性和质量等。因此，准确测定物料中的水分含量在诸如食品、制药、橡胶塑料、化工、油品、造纸等行业具有十分重要的意义。目前，烘箱干燥法被广泛应用于这些行业，但其检测的可操作性及效率对企业生产面临着艰巨的挑战。在这种背景下，快速卤素水分测定仪成为替代烘箱法的解决方案。
当您在选择快速卤素水分测定仪时，或许您无法确定哪一款更适合您的检测需求，或者对技术参数表中的各参数理解不深或不理解，导致您在选择时未抓到重点，容易被有些"边缘参数"给吸引，从而选择一些并不是十分适合自己的产品。
维科美拓作为快速卤素水分测定仪方面的专家，对水分有着专业的理解，带您一起来了解这些技术参数表中各参数的知识，为您提供卤素水分测定仪选型解决方案。
称重精度是指快速卤素水分测定仪内置天平的精度，在考核快速卤素水分仪的精度时，您需要理解以下内容：
称重精度（d）是指快速卤素水分测定仪内置天平的"实际分度值"，用 d表示，d代表天平的可读性。d是天平的最小刻度或叫分度值，也有叫最小读数精度的。它是天平本身的最小量值，也可视为精度。按规定称之为天平实际标尺分度值，用符号"d"表示。
称重精度（e）是指快速卤素水分测定仪内置天平的"检定分度值"，用 e表示，e代表对电子天平进行检定时考核的技术指标，一般的天平d＜e≤10d（因此在考核精度时，不应该仅仅参照d，还应在技术参数表内找到其它与d相关的技术参数，综合考虑）。
在考核快速卤素水分测定仪精准度时，要综合考虑称重精度d和e。市场上大部分快速卤素水分测定仪标注的称重精度是指d，而没有e的相关参数，此时应参考技术参数表内的"重复性"（相关信息参照本文"重复性"的内容介绍。）
VM-E01卤素水分测定仪（0.1mg/0.0001g）
重复性为快速卤素水分测定仪的最重要技术参数，在选择仪器时，应该根据自己企业的产品品控要求，重点对待：
说明当在同一台仪器上反复测试，测试相同样品时，结果的关联性（一致性）。
以标准偏差表达（标准偏差【StdDev,StandardDeviation】，统计学名词。一种度量数据分布的分散程度之标准，用以衡量数据值偏离算术平均值的程度。标准偏差越小，这些值偏离平均值就越少，反之亦然。标准偏差的大小可通过标准偏差与平均值的倍率关系来衡量。）
由于水分含量的测定是一种相对测量（湿重与干重比较），因此重复性取决于样品重量（起始重量或湿重）：
快速卤素水分测定仪
（点击图片可放大查看）
比较不同型号的重复性技术参数时，要比较相同重量的样品重复性。
请注意，技术参数表中的重复性只针对于理想样品。
在卤素水分测定仪实际测定过程中，由于下列同样重要的仪器特点的缘故，您样品的重复性可能与数据表上显示的数值有一定偏差：
样品表面均匀热分布
快速、精确和可重复的加热调节技术。
冷热性能（首次与随后测量之间差异）
这些是影响重复性的一些最关键要素。由于这些要素相对于定量性质更具有定性性质，因此未在数据表上明确标示，但必须予以考虑。
VM-E10卤素水分测定仪（1mg/0.001g）
标准加热：根据大量数据经验设计的一种加热模式，将仪器加热至目标温度。适合于大多数样品。
快速加热：在达到目标温度之前，超出目标温度一定时间（例如：超出40%达3分钟。）建议用于液体或者水分含量达30%以上的样品。
柔和加热：不断升温，并在指定的时间（升温时间）之后达到目标温度。建议用于挥发性或结皮样品。
阶梯加热：可定义不同目标温度（步骤）。您可定义升温（向上步骤）或降温（向下步骤）。用于区分表面湿度与结晶水分，也可用作自定义的快速或缓慢升温程序。
一些型号具有多种升温程序（加热曲线）。对于某些样品而言，这些程序对获得可靠和快速结果很有用，更高灵活性通常意味着优化方法的能力更强。
VM-01S型卤素水分测定仪0.0001g（0.1mg）
这是最小的显示单位（以克重和水分含量或干物质含量表示），大多数型号的读数精度为0.001g与0.01%，这对大多数应用或样品足够。
请注意，更高读数精度不会对快速水分测定仪的总体性能（重复性）产生影响。但是，当末位的舍入误差成为测量误差的主要因素时，读数精度会成为限定要素。这可用于水分含量很低的样品，例如：当产品良好（合格，符合规范要求）或者不良（不合格，超差）时，第2位（水分含量）成为评估驱动因素，例如塑料颗粒或白糖：
| 2位 | 3位 |
| 0.03%–不合格 | 0.025%–合格 |
| 0.02%–合格 | 0.024%–合格 |
总之，每当第二位(%MC)重要时，均需要高分辨率（0.1mg，0.001%读数精度）。
%MC即水分含量，用%MC=（G-g）/G X 100%，其中G表示样品总重，g表示样品烘干后的干重；%MC告知该型号仪器所能检测的水分范围，一般国内标注0-100%（市场因素导致），但这并不表示仪器的真实检测范围，仪器是有它本身的检测下限的，此下限决定了该型号仪器所能检测的最低水分（重复性良好的水分值），建议主要基于称重精度、读数精度、重复性三个技术参数综合考察。
VM-E20卤素水分测定仪（2mg/0.002g）
停机模式定义的是测量结束的时间。常见的停机模式有以下几种：
自动停机：一键启动，自动测试，根据失重率（样品恒重时间，例如：当在过去60秒内平均失重小于1mg时，测量停止）自动停机，满足大多数用户测试需求。
定时停机：根据设定的加热时间自动停机，如设定加热20分钟停机。
手动停机：持续加热，直至手动停止（手动模式下必须保持操作人员不离开，确保操作的安全）
仪器的停机模式是基于样品的干燥性，并且不太依赖于仪器、环境与起始条件，因此建议使用自动停机模式。
仪器提供不同的停机模式，意味着您可以更加灵活地改造您的干燥法，从而针对样品的类型、读数精度、准确性、测定速度等优化测定方案。
VM-E50卤素水分测定仪（5mg/0.005g）
干燥温度指定义的应用温度。请注意，干燥温度不是干燥时样品的温度。实际上不测量样品的温度，因此对此未知。
由于干燥温度对水份结果产生直接影响，因此是最重要的方法参数。这意味着温度是通过更改，获得与参比方法（通常为烘箱法）相同结果的参数。因此，当您需要高灵活性时，尤其是当您拥有不同类型的样品（例如：有机与无机样品或者液态与固态样品）时，拥有大温度范围很重要。通常可以增量 1 °C 设定干燥温度。
VM-E01A型远红外水分测定仪（0.1mg/0.0001g）
仪器校准即对仪器进行测试和调整、修正，以求能达到与参考值相同或接近的行为。根据快速卤素水分测定仪的原理可知，称重和温度是决定仪器准确度的关键因素，因此温度校准和称重校准在实际使用过程中至关重要。
快速卤素水分测定仪是一款精密的加热和称重一体化的仪器，因此必须像对待实验室精密仪器一样的要求和维护。称重的重要性直接体现在重复性和称重精度e上，因此它是至关重要的，直接关系到最终测量数据的准确度。当发生以下情形时需要进行称重校准：
环境温度变化时需重新校准。
移动仪器时需要重新校准。
仪器经过维修后需要重新校准。
长久放置重新启动使用时（或定期校准）。
VM-1S型卤素水分测定仪(0.001g/1mg）
温度是快速卤素水分测定仪测定结果准确度的决定因素之一，在测试过程中无论是过高还是过低的温度，都会导致测试结果的偏差，过低容易导致水分测定时间延长或水分挥发不完全，过高容易导致样品焦灼或成分挥发，因此温度校准在快速卤素水分测定仪中至关重要。当发生以下情形时需要进行称重校准：
环境温度变化时需重新校准。
测定结果误差较大时需要重新校准。
仪器经过维修后需要重新校准。
长久放置重新启动使用时（或定期校准）。
高效环形卤素灯
加热源以及对它的调节定义为加热系统。使用干燥失重法（热失重）原理的快速水份测定仪，通过吸收红外辐射（卤素等、远红外等）对样品加热。常见的加热源有：
环形卤素灯。
环形远红外暗场加热器。
影响性能的最重要因素是精确和快速温度调节，可通过质量小，因此可快速反应的卤素灯最有效实现。此外，样品表面上的热量均匀分布对于取得可重复与可靠结果不可或缺。无论是精确与快速热量调节，还是热量均匀分布，这两种因素不仅仅由热源决定，还由构造与加热算法决定。这些特性取决于特定仪器，因此，最好请求制造商进行演示，在实际应用中体验性能。
VM-5S型卤素水分测定仪（0.005g/5mg）
称量范围的标称值。有时还用于最大量程，即：称量范围的上限。
对于快速水份测定仪而言，大量程并不是非常重要的参数，典型样品取样量仅需要3g-5g，一些特殊点的样品也就20g-30g，而需要70g以上（样品盘+样品总重）的情况基本上见不到。因此大量程对于水分测定仪而言意义不大或无用处。
Recently viewed products
